%0 Journal Article %T 国外专利介绍 %A 高 %J 红外 %D 2007 %I %X 近红外可见光光子计数器美国专利US7202511 (2007年4月10日授权)在以前的可见光光子计数器中,本征杂质带探测器是根据硅的本征吸收原理制作的,它在0.4μm~1.0μm波长范围内具有较高的量子效率。而以前用硅掺砷材 %U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=3723000AE493FCE650601982177048B1&aid=D13CDA94FB03B68B0DE9A23F943A24C3&yid=A732AF04DDA03BB3&vid=D3E34374A0D77D7F&iid=B31275AF3241DB2D&journal_id=1672-8785&journal_name=红外&referenced_num=0&reference_num=0