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本文用我们曾导出的探测率D_λ~*公式计算了表面复合对HgCdTe光导器件的影响。计算结果表明:对77K、8~14μm和300K、3~5μmHgCdTe光导器件,表面复合速度应降到10~3cm/s以下,否则,D_λ~*将明显下降。随表面复合速度的增加,D_λ~*下降,而最佳厚度增大。本文计算得到了这三者之间的关系。
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