HgCdTe外延片组份值的简易省时判别法

测量x值的方法有13种,但都存在一些缺点。电阻判别法的原理是基于半导体具有一定的电阻,它与晶体的结构以及能带、电阻率、迁移率、载流子浓度、缺陷等有关,而Hg_(1-x)Cd_xTe晶体的能隙E_(?)又直接与x值有关。从经典电阻公式推导出电阻