%0 Journal Article
%T HgCdTe外延片组份值的简易省时判别法
%A 陈记安
%J 红外与毫米波学报
%D 1986
%I Science Press
%X 测量x值的方法有13种,但都存在一些缺点。电阻判别法的原理是基于半导体具有一定的电阻,它与晶体的结构以及能带、电阻率、迁移率、载流子浓度、缺陷等有关,而Hg_(1-x)Cd_xTe晶体的能隙E_(?)又直接与x值有关。从经典电阻公式推导出电阻
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=D3B4F771D1A06062008B4D0A2EF05996&aid=5F5BF049C5B7A49C&yid=4E65715CCF57055A&vid=94C357A881DFC066&iid=94C357A881DFC066&journal_id=1001-9014&journal_name=红外与毫米波学报&referenced_num=0&reference_num=0