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高分子学报 1984
STUDY ON THE MICROSTRUCTURE, DEFORMATION CHARACTERISTICS AND FAILURE PROCESS OF PS FILM CRAZES BY TEM
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Abstract:
本文介绍了用透射电镜观察PS薄膜银纹的微观结构、变形特性和破坏过程。实验观察到PS银纹质完整的网络结构和取向银纹质断裂以后的松弛特性。实验发现PS银纹质断裂转变成微裂纹的过程类似有机玻璃慢裂纹区的“撕布”模式,裂端银纹的外形符合Dugdale模型。