%0 Journal Article
%T STUDY ON THE MICROSTRUCTURE, DEFORMATION CHARACTERISTICS AND FAILURE PROCESS OF PS FILM CRAZES BY TEM<br>用透射电镜研究PS薄膜银纹的微观结构、变形特性和破坏过程
%A Lu Xi-ci
%A Pan Cheng-gao
%A Qian Ku-zheng
%A <br>吕锡慈
%A 范成高
%A 钱汝正
%J 高分子学报
%D 1984
%I 
%X 本文介绍了用透射电镜观察PS薄膜银纹的微观结构、变形特性和破坏过程。实验观察到PS银纹质完整的网络结构和取向银纹质断裂以后的松弛特性。实验发现PS银纹质断裂转变成微裂纹的过程类似有机玻璃慢裂纹区的“撕布”模式,裂端银纹的外形符合Dugdale模型。
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=6579068328FE643F&jid=15971983683C7643EE80F1CE621DEB60&aid=7CBE35C25A308CEC&yid=36250D1D6BDC99BD&iid=94C357A881DFC066&sid=4AD4BA66429F5627&eid=86C0C9A759FDA8CA&journal_id=1000-3304&journal_name=高分子学报&referenced_num=0&reference_num=0