Effect of TiO2 Content on the Densification, Microstructure and Dielectric Properties of ZrxTi1-xO2 Microwave Dielectric Ceramics
TiO2含量对微波介质瓷ZrxTi1-xO2致密化、微结构及介电性能的影响

制备了一系列ZrxTi1-xO2(x=0.40-0.60）微波介质瓷，对其致密化、微结构及介电性能进行了研究，XRD物相分析样品为单一均相的ZrTiO4，在相同的烧结温度下，TiO2含量越高，样品越不易致密，相对密度越低，晶粒越易长大，样品的相对密度越高，其介电常数和品质因数越大，粗对密度高于90％时，对样品介电性能的影响可以忽略，成份起主导作用，随着TiO2含量增加，样品的介电常数增大，品质在数降低。