%0 Journal Article
%T Effect of TiO2 Content on the Densification, Microstructure and Dielectric Properties of ZrxTi1-xO2 Microwave Dielectric Ceramics<br>TiO2含量对微波介质瓷ZrxTi1-xO2致密化、微结构及介电性能的影响
%A 张淑霞
%A 李建保
%A 曹俊
%A 张波
%A 翟华嶂
%J 过程工程学报
%D 2001
%I 
%X 制备了一系列ZrxTi1-xO2(x=0.40-0.60）微波介质瓷，对其致密化、微结构及介电性能进行了研究，XRD物相分析样品为单一均相的ZrTiO4，在相同的烧结温度下，TiO2含量越高，样品越不易致密，相对密度越低，晶粒越易长大，样品的相对密度越高，其介电常数和品质因数越大，粗对密度高于90％时，对样品介电性能的影响可以忽略，成份起主导作用，随着TiO2含量增加，样品的介电常数增大，品质在数降低。
%K 微波介质瓷
%K 钛酸锆
%K 致密化
%K 微结构
%K 介电性能
%K 二氧化钛
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=3FCF8B1A330466D5&jid=B9EE12934D19905403D996AE65CEEEED&aid=F7EC088BEE50BE16&yid=14E7EF987E4155E6&vid=CA4FD0336C81A37A&iid=E158A972A605785F&sid=73648F51F187AC5E&eid=B9B90065CF5CD7F0&journal_id=1009-606X&journal_name=过程工程学报&referenced_num=0&reference_num=14