A Novel Profilometry with Dual-frequency Grating
一种新的双频光栅轮廓术

物体含突变部分时，包裹相位很难准确恢复，若用双频光栅技术分两次测量，测量次数增加，不符合实时要求，提出用软件方法生成含两种不同频率的复合光栅，用液晶投影仪投影，针对不同物体突变情形，生成各种不同灵敏度的复合光栅，只一次采集，就达到过去双频多次采集的效果，两幅不同灵敏度的相位图可同时获取，相位去包裹时高精度光栅相位不确定性由粗光栅对应相位修正，最后，进行了实验测试，结果表明，新方法具有速度快、精度高、测试范围广等特点。