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ISSN: 2333-9721
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一种应用于MIMO-OFDM系统的K-best检测器VLSI结构

Keywords: MIMO-OFDM,VBLAST,K-BEST,检测器,VLSI

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Abstract:

K-best算法具有高性能、低复杂度的特点,是一种很有前途的MIMO数据检测技术。本文了提出一种新型的MIMO-OFDM K-best 检测器VLSI结构,其度量计算单元(MCU)通过预先确定各分支按照局部欧式距离的升序排列,按需将各条存活路径扩展至部分分支。展开后的分支通过一个分布式拣选器(Sorter)采用流水线方式快速拣选出新的存活路径。本文提出的结构,在16-QAM和64-QAM的调制方式下,相比传统结构能够分别减少50%和75%的运算量,从而明显降低了对硬件资源的需求。仿真结果表明,本文所提出的结构能够达到非常接近于传统K-best检测器的性能,从而为高速MIMO-OFDM 检测器的VLSI实现提供了一种高效的解决方案。

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