%0 Journal Article
%T 一种应用于MIMO-OFDM系统的K-best检测器VLSI结构
%A 鉴海防
%A 石寅
%J 半导体学报
%D 2009
%I 
%X K-best算法具有高性能、低复杂度的特点，是一种很有前途的MIMO数据检测技术。本文了提出一种新型的MIMO-OFDM K-best 检测器VLSI结构，其度量计算单元（MCU）通过预先确定各分支按照局部欧式距离的升序排列，按需将各条存活路径扩展至部分分支。展开后的分支通过一个分布式拣选器（Sorter）采用流水线方式快速拣选出新的存活路径。本文提出的结构，在16-QAM和64-QAM的调制方式下，相比传统结构能够分别减少50%和75%的运算量，从而明显降低了对硬件资源的需求。仿真结果表明，本文所提出的结构能够达到非常接近于传统K-best检测器的性能，从而为高速MIMO-OFDM 检测器的VLSI实现提供了一种高效的解决方案。
%K MIMO-OFDM
%K VBLAST
%K K-BEST
%K 检测器
%K VLSI
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=025C8057C4D37C4BA0041DC7DE7C758F&aid=A01E4731E05F89C7BB194B4138541673&yid=DE12191FBD62783C&vid=340AC2BF8E7AB4FD&iid=DF92D298D3FF1E6E&sid=985A2658B048ECC7&eid=E158A972A605785F&journal_id=1674-4926&journal_name=半导体学报&referenced_num=0&reference_num=0