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半导体学报 2013
A digitally calibrated CMOS RMS power detector for RF automatic gain control
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Abstract:
本文针对射频自动增益控制提出了一种宽带高精度数字校准CMOS RMS功率检测器。该功率检测器能够利用数字校准模式消除工艺、电压和温度带来的检测误差,同时它消耗很低的功耗和占用很小的芯片面积。测试结果表明在不同的工作频率(0.2 GHz - 0.8 GHz )、工艺、电压和温度情况下,校准后的功率检测器能将检测误差控制在0.3 dB范围内。采用0.18 μm CMOS 工艺,该功率检测器占用了263×214 μm2的芯片面积。在正常工作模式和数字校准模式下,整个检测器分别消耗1.6 mA和2.1 mA的电流。