%0 Journal Article
%T A digitally calibrated CMOS RMS power detector for RF automatic gain control<br>应用于射频自动增益控制的CMOS数字校准RMS功率检测器
%A Yan Taotao
%A Wang Hui
%A Li Jinbo
%A Zhou Jianjun
%A <br>闫涛涛
%A 王辉
%A 李金波
%A 周健军
%J 半导体学报
%D 2013
%I 
%X 本文针对射频自动增益控制提出了一种宽带高精度数字校准CMOS RMS功率检测器。该功率检测器能够利用数字校准模式消除工艺、电压和温度带来的检测误差，同时它消耗很低的功耗和占用很小的芯片面积。测试结果表明在不同的工作频率（0.2 GHz - 0.8 GHz ）、工艺、电压和温度情况下，校准后的功率检测器能将检测误差控制在0.3 dB范围内。采用0.18 μm CMOS 工艺，该功率检测器占用了263×214 μm2的芯片面积。在正常工作模式和数字校准模式下，整个检测器分别消耗1.6 mA和2.1 mA的电流。
%K automatic gain control
%K digital calibration
%K radio-frequency
%K RMS power detector<br>自动增益控制
%K 数字校准
%K 射频
%K RMS
%K 功率检测器
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=025C8057C4D37C4BA0041DC7DE7C758F&aid=4D6BB6A422263A458E2204E1951D065A&yid=FF7AA908D58E97FA&vid=339D79302DF62549&iid=38B194292C032A66&sid=6F57FC79591251FD&eid=DF92D298D3FF1E6E&journal_id=1674-4926&journal_name=半导体学报&referenced_num=0&reference_num=15