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OALib Journal期刊
ISSN: 2333-9721
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Design and Fabrication of Excellent Ultra-Broad Digital Attenuator Chips
高性能超宽带单片数字衰减器设计与实现

Keywords: ultra-broad band,GaAs,digital attenuator,MESFET
超宽带
,GaAs,数字衰减器,MESFET,高性能,超宽带,数字衰减器,设计,Chips,Attenuator,Digital,Fabrication,输入功率,压缩,基态,相位变化,衰减精度,电压驻波比,端口,衰减量,插入损耗,离子注入工艺,标准,测试结果

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Abstract:

介绍了一种高性能50MHz~20GHz的超宽带5 bit GaAs数字衰减器的设计、制造和测试结果,并着重介绍实现超宽带的设计.该衰减器通过标准0.5μm离子注入工艺实现.最终的单片衰减器性能如下:插入损耗<5dB;最大衰减量>31dB;两端口所有态的电压驻波比<1.5;所有态衰减精度<±0.3dB;相位变化量(相对于基态)在-5°~20°之间;1dB压缩点输入功率22dBm(10GHz).

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