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ISSN: 2333-9721
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Fabrication and characterization of an AlGaN/PZT detector
AlGaN/PZT探测器的研制及其性能

Keywords: AlGaN/PZT,dual-band detector,UV/IR,responsivity,detectivity
AlGaN/PZT
,双波段探测器,UV/IR,响应率,探测率

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Abstract:

本文报道了一种新型紫外红外应用的探测器的设计、制备及其性能。探测器由蓝宝石衬底上生长的p-GaN/i-GaN/n-Al0.3Ga0.7N/SiO2/LaNiO3/PZT/Pt多层结构组成。分别测量了紫外和红外的性能。紫外部分,光谱响应范围在302-363nm波段;在波长355nm,探测器零偏响应率为0.064A/W;I-V测量表明零偏暗电流为-1.57×10-12A;该探测器的探测率为1.81×1011cmHz1/2W-1。红外部分,在波长4μm处,探测器响应率为1.58×105cmHz1/2W-1。

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