%0 Journal Article %T Fabrication and characterization of an AlGaN/PZT detector
AlGaN/PZT探测器的研制及其性能 %A Zhang Yan %A Sun Jinglan %A Wang Nili %A Han Li %A Liu Xiangyang %A Li Xiangyang %A Meng Xiangjian %A
张燕 %A 孙璟兰 %A 王妮丽 %A 韩莉 %A 刘向阳 %A 李向阳 %A 孟祥建 %J 半导体学报 %D 2010 %I %X 本文报道了一种新型紫外红外应用的探测器的设计、制备及其性能。探测器由蓝宝石衬底上生长的p-GaN/i-GaN/n-Al0.3Ga0.7N/SiO2/LaNiO3/PZT/Pt多层结构组成。分别测量了紫外和红外的性能。紫外部分,光谱响应范围在302-363nm波段;在波长355nm,探测器零偏响应率为0.064A/W;I-V测量表明零偏暗电流为-1.57×10-12A;该探测器的探测率为1.81×1011cmHz1/2W-1。红外部分,在波长4μm处,探测器响应率为1.58×105cmHz1/2W-1。 %K AlGaN/PZT %K dual-band detector %K UV/IR %K responsivity %K detectivity
AlGaN/PZT %K 双波段探测器 %K UV/IR %K 响应率 %K 探测率 %U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=025C8057C4D37C4BA0041DC7DE7C758F&aid=DDC0EDA4964C3C4CB19087014B57D4AF&yid=140ECF96957D60B2&vid=4AD960B5AD2D111A&iid=59906B3B2830C2C5&sid=1BFFE7F7FF348B93&eid=38B194292C032A66&journal_id=1674-4926&journal_name=半导体学报&referenced_num=0&reference_num=0