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本文报道了Au/a-Ge双层膜的分形晶化现象,并首次测量了An/a-Ge双层膜分形晶化的V-I特性.实验结果表明:分形晶化后的An/a-Ge双层膜具有反常的非线性V-I特征,应用隧道结网络(RTJN)模型对实验结果给予了合理的解释.
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