%0 Journal Article
%T 分形晶化的Au/a-Ge双层膜的非线性体V-Ⅰ特征
%A 张庶元
%A 陈志文
%A 谭舜
%A 田明亮
%A 张裕恒
%J 半导体学报
%D 1997
%I 
%X 本文报道了Au／a－Ge双层膜的分形晶化现象，并首次测量了An／a－Ge双层膜分形晶化的V－I特性．实验结果表明：分形晶化后的An／a－Ge双层膜具有反常的非线性V－I特征，应用隧道结网络（RTJN）模型对实验结果给予了合理的解释．
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=025C8057C4D37C4BA0041DC7DE7C758F&aid=6099A4C94A6DB86D&yid=5370399DC954B911&vid=13553B2D12F347E8&iid=9CF7A0430CBB2DFD&sid=DC06EBDBAF4E06D3&eid=8243B77967FFD12E&journal_id=1674-4926&journal_name=半导体学报&referenced_num=0&reference_num=0