Energy Band Discontinuity at Polycrystalline CdS/CdTe Heterointerface
多晶CdS/CdTe异质结界面的能带偏移

采用真空蒸发法制备了CdS和CdTe，并对其结构和光学性质进行了研究．原位制备了衬底沿(001)高度择优取向的CdS/CdTe异质结，研究了其结构、电子学性质．获得的CdS/CdTe半导体异质结的价带偏移ΔEV=0.98eV±0.05eV，导带偏移ΔEc=0.07±0.1eV．