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ISSN: 2333-9721
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硅片的抗弯强度及其测量

Keywords: 半导体器件,硅片,抗弯强度,测量

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研究了硅片抗弯强度,提出了一种圆片冲击定量测定硅片抗弯强度的方法,讨论了其准确度及精度并通过实验进行了偏离小挠度的校准.

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