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OALib Journal期刊
ISSN: 2333-9721
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MOCVD Growth and Properties of Ga-Doped ZnO Films
Ga掺杂ZnO薄膜的MOCVD生长及其特性

Keywords: ZnO,doping,Burstein-Moss effect,bandgap renormalization,metal organic chemical vapor deposition
氧化锌
,掺杂,Burstein-Moss效应,能带重整化,金属有机化学气相外延

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Abstract:

利用低压MOCVD技术在(0002)蓝宝石上外延获得高质量的ZnO∶Ga单晶薄膜,并研究了Ga的不同掺杂浓度对材料电学和光学特性的影响.当Ga/Zn气相摩尔比为3.2 at%时,ZnO(0002)峰半高宽仅为0.26°,载流子浓度高达2.47e19cm-3,透射率高于90%;当载流子浓度升高时,吸收边出现明显的Burstein-Moss蓝移效应.同时室温光致发光谱显示,紫外峰位随载流子浓度的增加而发生红移,峰形展宽,这和Ga高掺杂所引起的能带重整化效应有关.当Ga/Zn比达到6.3 at%时,由于高掺杂浓度下Ga的自补偿效应导致载流子浓度下降.

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