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Keywords: Submicron technique,Chemical etching,Josephon junction亚微米技术,化学刻蚀,约瑟夫逊结
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本文研究了利用光刻图形转移过程中,湿法化学刻蚀存在的侧向钻蚀,通过对钻蚀程度的控制获得小于0.5μm的线条间隔.
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