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Keywords: 二氧化锡,激光CVD技术,半导体薄膜技术
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采用SnCl4和O2为反应源,ArF准分子激光CVD生长SnO2薄膜,利用XRD、UVT、XPS研究了薄膜的组成和结构,实验表明SnO2薄膜属于四方晶系、金红石结构,薄膜的紫外可见光透射率大于90%,吸收边波长为355nm,禁带宽度为3.49eV。最后,对SnO2薄膜的反应机理进行了讨论
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