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ISSN: 2333-9721
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遥感学报  1999 

Applications of Spectral Angle Mapping Method in Lithological Identification
光谱角度填图方法及其在岩性识别中的应用

Keywords: Imaging spectra,Lithology mapping
成像光谱
,岩性识别,光谱角度填图

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Abstract:

光谱角度填图(SAM)是成像光谱图像处理技术中,对岩石矿物进行谱形识别的主要方法之一,但其应用效果并不十分理想。以内蒙古渣尔泰山为实验区,从岩石实验室反射光谱的相似系数聚类分析入手,研究了光谱角度填图方法的优劣,及其产生的原因。探讨了利用均值图像参与分类的处理方案,从而改善了光谱角度填图方法中易于产生“异类同谱”的不足,获得良好的岩性识别效果。

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