%0 Journal Article
%T Applications of Spectral Angle Mapping Method in Lithological Identification<br>光谱角度填图方法及其在岩性识别中的应用
%A WANG Zhi Gang
%A ZHU Zhen Hai
%A WANG Hong Mei
%A LIU Qing Sheng
%A <br>王志刚
%A 朱振海
%A 王红梅
%A 刘庆生
%J 遥感学报
%D 1999
%I 
%X 光谱角度填图（ＳＡＭ）是成像光谱图像处理技术中，对岩石矿物进行谱形识别的主要方法之一，但其应用效果并不十分理想。以内蒙古渣尔泰山为实验区，从岩石实验室反射光谱的相似系数聚类分析入手，研究了光谱角度填图方法的优劣，及其产生的原因。探讨了利用均值图像参与分类的处理方案，从而改善了光谱角度填图方法中易于产生“异类同谱”的不足，获得良好的岩性识别效果。
%K Imaging spectra
%K Lithology mapping<br>成像光谱
%K 岩性识别
%K 光谱角度填图
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=E62459D214FD64A3C8082E4ED1ABABED5711027BBBDDD35B&cid=A41A70F4AB56AB1B&jid=F926358B31AC94511E4382C083F7683C&aid=9793F54DBE0E6318&yid=B914830F5B1D1078&vid=38B194292C032A66&iid=CA4FD0336C81A37A&sid=BFE7933E5EEA150D&eid=8BD23BD67BF01A5C&journal_id=1007-4619&journal_name=遥感学报&referenced_num=11&reference_num=2