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无机材料学报 2004
Silicon Carbon Nitride Films Grown by Hot-Filament Chemical Vapor Deposition
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Abstract:
在HFCVD系统中采用SiH4/CH4/H2/N2混合气体成功的制备了SiCN薄膜。SEM照片显示制备的SiCN薄膜由捧状结构构成,而在HRTEM下发现这些捧状结构是由生长在无定型SiCN基体当中的纳米晶粒组成的,进一步的SAED和XRD分析说明SiCN纳米晶粒具有类似于α-SiaN4的结构。XPS和FTIR分析表明薄膜中含有Si、C、N和O几种元素以及C=N、Si—N和C—N等共价键,但是并没有观察到C—Si的存在。由实验得出结论,SiCN晶体的生长包括两个步骤:α-Si3N4团簇的生长和C取代其中Si的过程。