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无机材料学报 1999
Epitaxial Growth and Phase Transition Properties of Vanadium DioxideThin Film on Sapphire Substrate
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Abstract:
利用XRD及XRD极图技术表征了用激光剥离技术生长的VO2薄膜。结果表明:在衬底温度为500℃,氧气偏压6.67Pa的条件下,在α-Al2O3(1120)衬底上能实现VO2的二维外延生长。薄膜的结构除了与沉积工艺有关外,还和衬底的取向密切相关。