Thickness dependence of microstructure for La0.9Sr0.1MnO3/Si films determined by micro-Raman spectroscopy
Raman光谱研究厚度对La0.9Sr0.1MnO3/Si薄膜结构的影响

通过溶胶-凝胶旋涂方法结合后退火工艺在Si（100）上制备了不同厚度的La0.9Sr0.1MnO3（LSMO）薄膜，利用X射线衍射（XRD）和共焦显微拉曼散射（Raman）研究了LSMO/Si（100）薄膜的微结构．研究结果表明90 nm厚的LSMO薄膜具有正交相结构，当厚度大于150 nm时，薄膜具有菱方相结构. 150 nm厚的薄膜的Raman图谱中，490 cm-1和602 cm-1正交结构