%0 Journal Article
%T Thickness dependence of microstructure for La0.9Sr0.1MnO3/Si films determined by micro-Raman spectroscopy<br>Raman光谱研究厚度对La0.9Sr0.1MnO3/Si薄膜结构的影响
%A Liu Xue-Qin
%A Han Guo-Jian
%A Huang Chun-Kui
%A Lan Wei
%A <br>刘雪芹
%A 韩国俭
%A 黄春奎
%A 兰伟
%J 物理学报
%D 2009
%I 
%X 通过溶胶-凝胶旋涂方法结合后退火工艺在Si（100）上制备了不同厚度的La0.9Sr0.1MnO3（LSMO）薄膜，利用X射线衍射（XRD）和共焦显微拉曼散射（Raman）研究了LSMO/Si（100）薄膜的微结构．研究结果表明90 nm厚的LSMO薄膜具有正交相结构，当厚度大于150 nm时，薄膜具有菱方相结构. 150 nm厚的薄膜的Raman图谱中，490 cm-1和602 cm-1正交结构
%K thin film
%K La1-xSrxMnO3
%K confocal micro-Raman spectroscopy
%K microstructure<br>薄膜，
%K La1-xSrxMnO3，
%K 共焦显微拉曼，
%K 微结构
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=47EA7CFDDEBB28E0&jid=29DF2CB55EF687E7EFA80DFD4B978260&aid=25DA37BC8364F99B776E78D21A461628&yid=DE12191FBD62783C&vid=9FFCC7AF50CAEBF7&iid=708DD6B15D2464E8&sid=E014F77679A484EC&eid=74C596E94C4C49BA&journal_id=1000-3290&journal_name=物理学报&referenced_num=0&reference_num=0