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ISSN: 2333-9721
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物理学报  2007 

Correlation of emitted electrons in near threshold double ionization of helium by electron impact
近阈值下He原子的双电子电离实验中出射电子研究

Keywords: near threshold double ionization,reaction microscope,electron impact ionization
近阈值He原子的双电离
,反应显微成像谱仪,电子入射电离

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Abstract:

利用适用于低能电子入射的反应显微成像谱仪,对电子入射He原子近阈值下的双电离过程进行了研究,实验测量了反应后3个粒子的全部动量,获得了出射电子间的关联信息.主要介绍近阈值下的双电离实验装置及实验技术,集中分析反应后出射电子的动量能量关系,对描述近阈值双电离的Wannier理论进行了检验,发现在入射电子能量为106eV时,实验结果具有Wannier理论预言的性质.

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