%0 Journal Article
%T Correlation of emitted electrons in near threshold double ionization of helium by electron impact<br>近阈值下He原子的双电子电离实验中出射电子研究
%A A Dorn
%A J Ullrich
%A Cao Shi-Ping
%A Ma Xin-Wen
%A A Dorn
%A J Ullrich
%A <br>曹士娉
%A 马新文
%A M. Dürr
%A M. Dürr
%J 物理学报
%D 2007
%I 
%X 利用适用于低能电子入射的反应显微成像谱仪，对电子入射He原子近阈值下的双电离过程进行了研究，实验测量了反应后3个粒子的全部动量，获得了出射电子间的关联信息.主要介绍近阈值下的双电离实验装置及实验技术，集中分析反应后出射电子的动量能量关系，对描述近阈值双电离的Wannier理论进行了检验，发现在入射电子能量为106eV时，实验结果具有Wannier理论预言的性质.
%K near threshold double ionization
%K reaction microscope
%K electron impact ionization<br>近阈值He原子的双电离
%K 反应显微成像谱仪
%K 电子入射电离
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=47EA7CFDDEBB28E0&jid=29DF2CB55EF687E7EFA80DFD4B978260&aid=1A7F80CA21754FB431059B69668E11F9&yid=A732AF04DDA03BB3&vid=014B591DF029732F&iid=708DD6B15D2464E8&sid=EF8C9A587ECFC0AF&eid=AB52DF717567BB49&journal_id=1000-3290&journal_name=物理学报&referenced_num=0&reference_num=16