|
物理学报 2001
THE TRANSITION FROM Eu3+TO Eu2+ IN SiO2(Eu) THIN FILMS PREPARED BY ION IMPLANTATION AND CO-SPUTTERING
|
Abstract:
采用共溅射方法和Eu离子注入热生长的SiO2方法得到SiO2(Eu)薄膜,Eu离子的浓度为4%和0.5%.对样品X射线吸收近边结构(XANES)的研究和分析表明,在高温氮气中发生了Eu3+向Eu2+的转变.SiO2(Eu)薄膜高温氮气退火下蓝光的发射证明了这一结论