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ISSN: 2333-9721
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物理学报  1998 

A HIGH RESOLUTION ELECTRON MICROSCOPY INVESTIGATION OF CURVATURE IN MULTILAYER GRAPHITE SHEETS
石墨薄片弯曲度的高分辨率电子显微镜研究

Keywords: 石墨,弯曲度,高序石墨,TEM,原子晶格平面

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Abstract:

报道了一种用高序石墨在乙醇、水或乙醇水混合溶液中超声波处理产生的碳样品.高分辨率电子显微镜揭示出大量具有总角度为θ0(±30℃)倍数的弯曲石墨片存在.显微镜检查表明,弯曲是通过原子晶格平面的偏转而成的.基于石墨的对称轴结构和在sp2石墨网络中类-sp3线缺陷的形成,讨论了石墨片弯曲的可能解释.

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