%0 Journal Article
%T A HIGH RESOLUTION ELECTRON MICROSCOPY INVESTIGATION OF CURVATURE IN MULTILAYER GRAPHITE SHEETS<br>石墨薄片弯曲度的高分辨率电子显微镜研究
%A WANG ZHEN-XIA
%A HU JUN
%A WANG WEN-MIN
%A YU GUO-QING
%A RUAN MEI-LING
%A <br>王震遐
%A 胡 均
%A 王玟珉
%A 俞国庆
%A 阮美龄
%J 物理学报
%D 1998
%I 
%X 报道了一种用高序石墨在乙醇、水或乙醇水混合溶液中超声波处理产生的碳样品．高分辨率电子显微镜揭示出大量具有总角度为θ0（±30℃）倍数的弯曲石墨片存在．显微镜检查表明，弯曲是通过原子晶格平面的偏转而成的．基于石墨的对称轴结构和在sp2石墨网络中类-sp3线缺陷的形成，讨论了石墨片弯曲的可能解释.
%K 石墨
%K 弯曲度
%K 高序石墨
%K TEM
%K 原子晶格平面
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=47EA7CFDDEBB28E0&jid=29DF2CB55EF687E7EFA80DFD4B978260&aid=478BD5F0F36565A6D3E4EB21C81C4682&yid=8CAA3A429E3EA654&vid=F4B561950EE1D31A&iid=708DD6B15D2464E8&sid=CE651EF760BCA96C&eid=D9E48D267DE45913&journal_id=1000-3290&journal_name=物理学报&referenced_num=0&reference_num=1