A MODIFIED WARREN-AVERBACH METHOD FOR THE SAMPLE WITH A MICRO-STRAIN GRADIENT IN ITS SURFACE LAYER
样品表面层有微观应变梯度时Warren-Averbach方法的修正

本文讨论了样品表面层有微观应变梯度时X射线衍射线形分析的方法.设样品表面层微观应变随深度t的变化满足关系式<εL2>=∑am(L)tm,从而改进了Warren-Averbacb方法,使之可以应用到表面层存在微观应变梯度的情形.若<εL2>=a0(L)+a1(L)t,则分析二种波长不同的X射线同一衍射方向的衍射线形,可以得到微观应变随深度的变化规律.