%0 Journal Article
%T A MODIFIED WARREN-AVERBACH METHOD FOR THE SAMPLE WITH A MICRO-STRAIN GRADIENT IN ITS SURFACE LAYER<br>样品表面层有微观应变梯度时Warren-Averbach方法的修正
%A YANG LIU
%A YAO HONG-NIAN
%A <br>杨柳
%A 姚鸿年
%J 物理学报
%D 1989
%I 
%X 本文讨论了样品表面层有微观应变梯度时X射线衍射线形分析的方法.设样品表面层微观应变随深度t的变化满足关系式<εL2>=∑am(L)tm,从而改进了Warren-Averbacb方法,使之可以应用到表面层存在微观应变梯度的情形.若<εL2>=a0(L)+a1(L)t,则分析二种波长不同的X射线同一衍射方向的衍射线形,可以得到微观应变随深度的变化规律.
%K 晶体学
%K 形变多晶材料
%K W－A方法
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=47EA7CFDDEBB28E0&jid=29DF2CB55EF687E7EFA80DFD4B978260&aid=9980150F11AD8C7CE692C71A84585421&yid=1833A6AA51F779C1&vid=16D8618C6164A3ED&iid=B31275AF3241DB2D&sid=243DE6042D93E88B&eid=5C16CF56EB56D002&journal_id=1000-3290&journal_name=物理学报&referenced_num=0&reference_num=0