全部 标题 作者
关键词 摘要

OALib Journal期刊
ISSN: 2333-9721
费用:99美元

查看量下载量

相关文章

更多...
物理学报  1995 

DIAGNOSTICS OF ELECTRON DENSITY OF LASER-PRODU-CED PLASMA FROM THE XUV SPECTRA OF AgXIX
利用类铜离子谱线诊断银等离子体电子密度

Keywords: ,等离子体,电子密度,XUV光谱,等离子体诊断

Full-Text   Cite this paper   Add to My Lib

Abstract:

测量了激光加热块状银靶产生的等离子体XUV光谱.计算了T_e分别为65eV,86eV和130eV时,AgXIX4s-4P,4P-4d,4d-4f7条谱线在不同电子密度时的强度.根据AgXIX4d~2D_(s/2~-)4f~2F_(r/2)和4P~2P_(3/2)-4d~2D_(s/2)两条谱线的强度比,推导了激光银等离子体电子密度.当入射激光功率密度W为6×10~(12)W/cm~2时,银等离子体电子密度N_e=1×10~(20)/cm~3.

Full-Text

Contact Us

service@oalib.com

QQ:3279437679

WhatsApp +8615387084133