%0 Journal Article
%T DIAGNOSTICS OF ELECTRON DENSITY OF LASER-PRODU-CED PLASMA FROM THE XUV SPECTRA OF AgXIX<br>利用类铜离子谱线诊断银等离子体电子密度
%A WANG WEN-ZHONG
%A ZHANG TAN-XIN
%A HE ZHAO-TANG
%A GU YU-QIU
%A LONG YONG-LU
%A JIANG WEN-MIAN
%A <br>黄文忠
%A 张覃鑫
%A 何绍堂
%A 谷渝秋
%A 尤永录
%A 江文勉
%J 物理学报
%D 1995
%I 
%X 测量了激光加热块状银靶产生的等离子体XUV光谱.计算了T_e分别为65eV,86eV和130eV时,AgXIX4s-4P,4P-4d,4d-4f7条谱线在不同电子密度时的强度.根据AgXIX4d~2D_(s/2~-)4f~2F_(r/2)和4P~2P_(3/2)-4d~2D_(s/2)两条谱线的强度比,推导了激光银等离子体电子密度.当入射激光功率密度W为6×10~(12)W/cm~2时,银等离子体电子密度N_e=1×10~(20)/cm~3.
%K 银
%K 等离子体
%K 电子密度
%K XUV光谱
%K 等离子体诊断
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=47EA7CFDDEBB28E0&jid=29DF2CB55EF687E7EFA80DFD4B978260&aid=FCAE0A99323261C34EA44013B2467E1F&yid=BBCD5003575B2B5F&vid=1AE5323881A5ECDC&iid=708DD6B15D2464E8&sid=5B3A9A8E2DA941E3&eid=65A936AA46C30FB3&journal_id=1000-3290&journal_name=物理学报&referenced_num=0&reference_num=1