THE DIFFUSION LENGTH OF MINORITY CARRIERS IN N-TYPE SILICON MEASURED WITH A SURFACE BARRIER DETECTOR
用面垒探测器测定n型硅中少数载流子的扩散长度

当α粒子穿入Au-Si面垒探测器的扩散区时,其产生的非平衡少数载流于扩散到势垒边界而被收集,因此在探测器两端有一输出脉冲。本文从理论上计算了扩散区中的收集效率,获得了收集效率和扩散长度的函数关系。另外将实验上测定的收集效率与理论加以比较,从而确定少数载流子的扩散长度。