%0 Journal Article
%T THE DIFFUSION LENGTH OF MINORITY CARRIERS IN N-TYPE SILICON MEASURED WITH A SURFACE BARRIER DETECTOR<br>用面垒探测器测定n型硅中少数载流子的扩散长度
%A TANG PU-SHAN
%A HUO MING-HSIA
%A CHEN TSO-YU
%A WANG CHU
%A <br>唐璞山
%A 贺明霞
%A 陈佐禹
%A 王楚
%J 物理学报
%D 1963
%I 
%X 当α粒子穿入Au-Si面垒探测器的扩散区时,其产生的非平衡少数载流于扩散到势垒边界而被收集,因此在探测器两端有一输出脉冲。本文从理论上计算了扩散区中的收集效率,获得了收集效率和扩散长度的函数关系。另外将实验上测定的收集效率与理论加以比较,从而确定少数载流子的扩散长度。
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=47EA7CFDDEBB28E0&jid=29DF2CB55EF687E7EFA80DFD4B978260&aid=0393E62004A6B26A&yid=49BEA5698E310F48&vid=2A8D03AD8076A2E3&iid=DF92D298D3FF1E6E&sid=A6683C8C0EB9BCA7&eid=366B1248A15658C5&journal_id=1000-3290&journal_name=物理学报&referenced_num=0&reference_num=0