MEASUREMENT OF THE BAND WIDTH OF ELECTRON CHANNELLING PATTERNS IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPY
扫描电子显微镜中电子通道带宽的测量

为了标定扫描电子显微镜中电子通道图的晶体学指数,需要测量电子通道带宽W。但是电子通道带是圆锥截线,各处的带宽不同,因此有必要找出电子通道带宽的变化规律。Schulson就电子通道图的晶带轴平行于镜筒光轴的情形作了计算。廖乾初等将结果推