%0 Journal Article
%T MEASUREMENT OF THE BAND WIDTH OF ELECTRON CHANNELLING PATTERNS IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPY<br>扫描电子显微镜中电子通道带宽的测量
%A ZHANG JING-GUO
%A <br>章靖国
%J 物理学报
%D 1978
%I 
%X 为了标定扫描电子显微镜中电子通道图的晶体学指数,需要测量电子通道带宽W。但是电子通道带是圆锥截线,各处的带宽不同,因此有必要找出电子通道带宽的变化规律。Schulson就电子通道图的晶带轴平行于镜筒光轴的情形作了计算。廖乾初等将结果推
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=47EA7CFDDEBB28E0&jid=29DF2CB55EF687E7EFA80DFD4B978260&aid=2C478CAB901F150D&yid=EA437CDB73D9759D&vid=DB817633AA4F79B9&iid=E158A972A605785F&sid=47F7649551A37CFC&eid=7D1E6EEC2019967D&journal_id=1000-3290&journal_name=物理学报&referenced_num=0&reference_num=0