X-RAY MEASUREMENT OF THE THERMAL EXPANSION OF GERMANIUM, SILICON, INDIUM ANTIMONIDE AND GALLIUM ARSENIDE
锗、硅、锑化铟和砷化镓的热膨涨——用X射线衍射法测量

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Abstract:

本工作是用X射线衍射法测量锗、硅和合金InSb及GaAs在不同温度的点阵常数,观察它们的热膨涨,并求得它们的膨涨系数。

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