%0 Journal Article
%T X-RAY MEASUREMENT OF THE THERMAL EXPANSION OF GERMANIUM, SILICON, INDIUM ANTIMONIDE AND GALLIUM ARSENIDE<br>锗、硅、锑化铟和砷化镓的热膨涨——用X射线衍射法测量
%A SHAW NAN
%A LIU YI-HUAN
%A <br>萧楠
%A 刘益焕
%J 物理学报
%D 1964
%I 
%X 本工作是用X射线衍射法测量锗、硅和合金InSb及GaAs在不同温度的点阵常数,观察它们的热膨涨,并求得它们的膨涨系数。
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=47EA7CFDDEBB28E0&jid=29DF2CB55EF687E7EFA80DFD4B978260&aid=B67BE94B58BC3AFB&yid=29B68C6EE36B014B&vid=A04140E723CB732E&iid=5D311CA918CA9A03&sid=C230D48775108CE3&eid=F20A770D14436F7C&journal_id=1000-3290&journal_name=物理学报&referenced_num=0&reference_num=0