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Applied Physics 2022
强电磁脉冲对武器装备电子系统毁伤效应分析及电磁防护材料技术
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Abstract:
文章介绍了强电磁脉冲武器的特点以及毁伤机理,同时对强电磁脉冲防护技术进行了分析,最后研究了强电磁脉冲防护技术以及新型电磁防护材料在电磁脉冲防护领域的应用技术,同时对强电磁脉冲防护技术的发展趋势和未来发展方向进行了分析,为进行强电磁脉冲防护材料提供一定的研究基础。
In this paper, the characteristics and damage mechanism of EMP weapon are introduced, and the protection technology of EMP weapon is analyzed. Strong electromagnetic pulse protection technology and new electromagnetic protection materials in the field of electromagnetic pulse protection technology is introduced. The development trend and future development direction of the technique are analyzed, which provides a certain research basis for strong electromagnetic pulse protection materials.
[1] | 刘红兵, 王长河, 赵彤, 等. ESD与EMP对微波晶体管损伤机理研究[J]. 半导体技术, 2008, 33(8): 705-710. |
[2] | 乔登江, 主编. 电子元器件电磁脉冲效应手册[M]. 西安: 西北核技术研究所, 1992. |
[3] | Vinson, J.E. and Liou, J.J. (1998) Electrostatic Discharge in Semiconductor Devices Overview. Proceedings of the IEEE, 86, 399-418. https://doi.org/10.1109/5.659493 |
[4] | 刘尚合, 武占成, 朱长青. 静电放电及危害防护[M]. 北京: 北京邮电大学出版社, 2004. |
[5] | 周壁华, 陈彬, 石立华. 电磁脉冲及其工程防护[M]. 北京: 国防工业出版社, 2003. |
[6] | 谢彦召, 王赞基, 王群书, 孙蓓云, 郭晓强, 赵宇明. 基于频域幅度谱数据重建电磁脉冲时域波形[J]. 强激光与粒子束, 2004, 16(3): 320-324. |
[7] | 潘峰, 余同彬, 李炎新. 电磁脉冲对微机接口电路的耦合实验研究[J]. 安全与电磁兼容, 2001(3): 12-16. |
[8] | 陈修桥, 胡以华, 张建华, 黄友锐, 何丽. 计算机机箱的电磁脉冲耦合模拟仿真[J]. 系统仿真学报, 2004, 16(12): 2786-2788. |
[9] | 臧扬, 刘文冰, 魏明, 路潇. FPGA静电电磁脉冲辐照效应试验研究[J]. 军械工程学院学报, 2005, 17(5): 22-28. |
[10] | 张力群, 石立华, 谭坚文. 电磁脉冲对微控制器干扰特性的实验研究[J]. 安全与电磁兼容, 2005(1): 33-35. |
[11] | 侯民胜, 许明辉. 核电磁脉冲对武器装备电子系统的辐照效应实验[J]. 航天电子对抗, 2003(6):46-48. |
[12] | 刘尚合, 刘卫东. 电磁兼容与电磁防护相关研究进展[J]. 高电压技术, 2014, 40(6): 1605-1613. |
[13] | 宁成. 新型人工周期结构仿真和设计方法及其在强电磁防护中的应用研究[D]: [硕士学位论文]. 杭州: 浙江大学, 2018. |
[14] | Li, Y. and Tan, Z.-L. (2018) Stimulation and Design of RF Front-End Electromagnetic Protection Module Based on HF Communication. 2018 International Conference on Electronics Technology, Chengdu, 23-27 May 2018 142-146.
https://doi.org/10.1109/ELTECH.2018.8401444 |
[15] | Xu, W.R. and Sonkusale, S. (2013) Mirowave Diode Switchable Meta-Material Reflector/Absorber. Applied Physics Letters, 103, Article ID: 031902. https://doi.org/10.1063/1.4813750 |
[16] | Smedes, T. (2009) ESD Testing of Devices, IC and Systems. Microelectronics Reliability, 49, 941-945.
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2009.07.013 |
[17] | Rui, X., Jin, H., Deng, W. (2003) The Study of Spectrum Stimulation in the Power Electron IC Device Based on Wavelet Analysis. Dongnan University Press, Nanjing, 182-185. |
[18] | Shi, L.H., Li, Z.D., Li, Y.X., et al. (2003) Estimation of the EMP Response of a System from Its Continuous Wave Measurement Results. Dongnan University Press, Nanjing, 340-343. |