弥散张量成像揭示失神癫痫患儿的默认模式脑区结构异常

目的儿童失神癫痫(Childhood absence epilepsy, CAE)是一种很常见的特发性癫痫，少有研究此类患者的大脑结构变化，尤其是默认模式网络脑区的脑结构是否存在异常改变。弥散张量成像技术可以用来定量评估脑结构的改变。研究将利用该技术探讨CAE患儿的脑结构改变。 方法收集2014年10月-2016年4月于南京脑科医院神经内科就诊的14例CAE患儿和13名性别、年龄匹配的健康对照组弥散张量成像数据。基于体素对弥散张量数据进行分析处理，并对组间资料进行统计比较。提取组间比较存在显著性差异脑区的弥散张量参数，将参数与患儿的临床资料做相关性分析。 结果患儿组的表观弥散系数在左内侧前额叶出现了显著性增高( P=0.042)，而部分各向异性明显降低的脑区主要位于左侧楔前叶( P=0.010)。相关性分析结果显示，左内侧前额叶的表观弥散系数与患儿的病程存在正相关( R=0.80， P=0.001)。但部分各向异性与病程和发病频率无相关性。 结论CAE患儿的默认模式网络脑区存在结构异常，这将有助于进一步理解CAE患儿神经损伤的病理机制以及癫痫活动对他们的长期影响