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ISSN: 2333-9721
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-  2005 

电子设备中天线的互耦效应分析

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Abstract:

介绍了电磁兼容问题在现代电子设备设计中的重要性;重点研究了电子设备中天线的互耦效应和校正方法,阐明了天线的互耦效应直接影响到天线性能,并对软件校正方法进行了计算机模拟.;This paper introduces the importance of EMC in the design of modern electronic devices,studies the mutual coupling effect and calibration methods,investigates the performance degradation due to mutual coupling,and presents some computer simulation results of software calibrating method

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