基于优化编码的LFSR重播种测试压缩方案

Keywords: [可测性设计, 低功耗, 测试数据压缩, 分段相容码, LFSR重播种, design for testability, low power, test data compression, compatible block code, LFSR reseeding]

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Abstract:

大规模高密度集成电路测试中存在测试数据量大、测试功耗高等问题..

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