二氧化硅包覆的羟基磷灰石纳米粒子的制备与性能研究
Keywords: 羟基磷灰石,表面修饰,正硅酸乙酯,纳米粒子
Abstract:
采用正硅酸乙酯（TEOS）水解法在羟基磷灰石粉体表面包覆二氧化硅进行表面改性，并通过扫描电镜（SEM）、透射电镜（TEM）、X射线衍射（XRD）、红外（FTIR）、zeta电位，沉降实验等对样品的晶体结构、颗粒的形貌进行了表征，结果表明，涂层厚度约为3nm，包覆后的纳米粒子在水溶液中的胶体稳定性提高了5倍，二氧化硅在羟基磷灰石表面的吸附符合异质凝结机制
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