C3H8O3在ZAlSi12Cu2Mg1微弧氧化膜形成中作用机理的研究

本文在含Na2SiO38g/L、NaOH2g/L 、Na2WO42g/L、Na2EDTA2g/L的电解液和正/负向电压取480/130V的条件下，通过改变C3H8O3的含量，对ZAlSi12Cu2Mg1进行微弧氧化处理。研究结果发现，添加C3H8O3 可明显地细化电解液中的胶粒，改善微弧氧化膜的致密性和平整性，增加膜层厚度，提高膜层硬度。当C3H8O3的含量由0ml/L增加到10ml/L时，胶粒的平均粒径从10530.6nm几乎线性减小到2615.8nm，膜层氧化物颗粒尺寸变小，致密层所占比例增加，膜层厚度从63μm增加到156μm，膜层硬度提高到HV894。而含量超过10ml/L时，临界起弧正向电压升高至408 V。电解液中加入C3H8O3，膜层中除了莫来石相，还出现了α-Al2O3、γ-Al2O3、WO3 和SiO2相